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Focused Ion Beam – Scanning Electron Microscope (DualBeam FIB-SEM)

Mapa de Competencias y Capacidades

GRANDES EQUIPAMIENTOS/SERVICIOS CENTRALES DE INVESTIGACIÓN
Focused Ion Beam - Scanning Electron Microscope (DualBeam FIB-SEM)
Imagens (resolução 1 nm) Espectroscopia EDX 3D reconstrução Seção transversal Patterning (resolução 4 nm)

Entidad

INL

Aplicaciones

Estudos morfologicos e químicos en 2D e 3D

Tarifa

115 €/h

Contacto